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ES660系列ESD和LU測試系統(tǒng)是一種先進(jìn)的多引腳自動(dòng)化測試設(shè)備，旨在滿足現(xiàn)代半導(dǎo)體測試的嚴(yán)格要求。這款多功能設(shè)備旨在無縫支持人體模型（HBM）、機(jī)器模型（MM）和閂鎖測試，為評估集成電路（IC）和電子元件的可靠性和魯棒性提供全面的解決方案。$nES660-P1 ESD靜電和閂鎖測試系統(tǒng)能夠支持多達(dá)1024個(gè)引腳，是測試具有多種連接的復(fù)雜IC和電子元件的理想選擇。

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號源產(chǎn)生電磁場，用于測試IC，無線通信模塊等。外部信號通過EM601輸入端口進(jìn)行加載，在小室腔體內(nèi)生產(chǎn)一個(gè)均勻、可控的電磁場，進(jìn)行被測模塊或IC的抗擾度測試。IC或其他模塊安裝在測試夾具上放入小室，其產(chǎn)生的輻射場特性也可以通過信號接收機(jī)連接EM601小室端口進(jìn)行檢測