ES62X-LVS 型低壓浪涌測(cè)試系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級(jí)和封裝級(jí)器件的浪涌敏感度測(cè)試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測(cè)量和靜態(tài)IV曲線測(cè)試功能，便于確定被測(cè)器件的ESD損傷閾值。

產(chǎn)品型號(hào)：ES62X-LVS
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-08-13
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詳細(xì)介紹

1.描述

低壓浪涌測(cè)試系統(tǒng)脈沖發(fā)生器的設(shè)計(jì)和脈沖輸出方法保證了被測(cè)器件端的波形性能。系統(tǒng)能夠獲取浪涌脈沖注入時(shí)的的瞬態(tài)電流和電壓波形，用于分析包括ESD保護(hù)器件開啟電壓等級(jí)在內(nèi)的被測(cè)器件ESD特性。通過(guò)對(duì)比脈沖注入時(shí)的電壓波形變化，還能夠判定故障等級(jí)。

2.特點(diǎn)

1V至500V電壓范圍內(nèi)波形干凈，線性度高
*隔離的放電電路
軟件控制，自動(dòng)化測(cè)量
損傷閾值自動(dòng)監(jiān)測(cè)（DC漏電測(cè)量及靜態(tài)IV掃描）

3.低壓浪涌測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用

基于IEC61000-4-5 8 /20μs標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行電源，驅(qū)動(dòng)PCB，通信系統(tǒng)，LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測(cè)試。
進(jìn)行晶圓，封裝和PCB級(jí)的浪涌脈沖敏感度測(cè)試。
10 /1000μs波形的晶圓，封裝，PCB和系統(tǒng)級(jí)浪涌敏感度和抗擾度測(cè)試。

4.規(guī)格

參數(shù)	LVS-500-8/20 選項(xiàng)	LVS-500-10/1000 選項(xiàng)	單位
輸出電壓（開路負(fù)載）	1 – 500	1 – 500	V
輸出電流（短路負(fù)載）	0.5 – 250	0.12 – 55	A
輸出精度	± 5 %	± 5 %	%
輸出電阻	2 ± 10%	9 ± 10%	?
短路電流波前時(shí)間	8 ± 20 %	10 – 40 %	µs
短路電流半峰值時(shí)間	20 ± 20 %	1000 +20 %	µs
開路電壓波前時(shí)間	1.2 ± 30 %	10 – 40 %	µs
開路電壓半峰值時(shí)間	50 ± 20 %	1000 +50 %	µs
尺寸	347 X 300 X 145		mm
重量	12		kg
電壓探頭	無(wú)源電壓探頭, 101:1
電流探頭	無(wú)源電流探頭, 0.1 V/A