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ES660系列ESD和LU測試系統(tǒng)是一種先進的多引腳自動化測試設備，旨在滿足現(xiàn)代半導體測試的嚴格要求。這款多功能設備旨在無縫支持人體模型（HBM）、機器模型（MM）和閂鎖測試，為評估集成電路（IC）和電子元件的可靠性和魯棒性提供全面的解決方案。$nES660-P1 ESD靜電和閂鎖測試系統(tǒng)能夠支持多達1024個引腳，是測試具有多種連接的復雜IC和電子元件的理想選擇。

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號源產(chǎn)生電磁場，用于測試IC，無線通信模塊等。外部信號通過EM601輸入端口進行加載，在小室腔體內(nèi)生產(chǎn)一個均勻、可控的電磁場，進行被測模塊或IC的抗擾度測試。IC或其他模塊安裝在測試夾具上放入小室，其產(chǎn)生的輻射場特性也可以通過信號接收機連接EM601小室端口進行檢測

A4003 ESD 電流靶校準套件（電流靶、適配器 （或 50 Ω 錐形適配器） 校準套裝）是一套完整的多合一校準測量裝置，用于檢測ESD電流靶的頻率響應（ – 4GHz），檢測ESD電流靶適配器頻率響應（-4GHz），還可根據(jù) IEC/EN 61000-4-2 或 ISO10605標準檢測校準靜電放電模擬器波形。

ES62X-LVS 型低壓浪涌測試系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝級器件的浪涌敏感度測試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測量和靜態(tài)IV曲線測試功能，便于確定被測器件的ESD損傷閾值。